TB phân tích bề mặt SPM

Kính hiển vi đầu dò quét Shimadzu SPM-9700

Model: SPM-9700

Hãng sản xuất: SHIMADZU

Hiệu quả cao, tốc độ nhanh và vận hành đơn giản
Ảnh có thể được xoay, thu phóng và độ phóng đại theo trục Z có thể thay đổi bằng cách sử dụng chuột máy tính
Có thể hiển thị đồng thời 8 ảnh và thiết diện mặt cắt ngang có thể được phân tích trong dạng ảnh 3D
Với hầu hết các chế độ đo được lựa chọn thì ảnh thu được có thể hiển thị các thông tin khác nhau bên cạnh hình mẫu
Bộ điều khiển được gắn với một buồng kiểm soát môi trường để kiểm doát nhiệt độ và độ ẩm bên trong buồng
Phần mềm phân tích có thể tách các hạt dữ liệu ảnh SPM-9700 và tính toán các giá trị đặc trưng cho mỗi hạt, sau đó phân tích và hiển thị chúng
Độ phân giải: X, Y: 0.2 nm; Z: 0.01 nm
Nguồn sáng: Laser diode (ON/OFF)
Đầu thu tín hiệu: Photodetector
Kích thước tối đa của mẫu: 24 mm dia. x 8 mm

Liên hệ

Model: SPM-8000FM

Hãng sản xuất: SHIMADZU

Đạt được hiệu quả cao trong môi trường chân không, thậm chí là cả trong môi trường không khí và chất lỏng
Độ ồn trong không khí và chất lỏng giảm tới 20 lần so với các phương pháp trước đó
Sử dụng phương pháp FM-AFM (Điều biến tần số - Kính hiển vi lực nguyên tử)
Tối đa 8 ảnh có thể được hiển thị đồng thời, các thiết diện hình chữ thập có thể được hiển thị trong suốt quá trình quét
Có thể xác định các thông số quan sát được
Độ phân giải: X, Y: 0.2 nm, Z: 0.01 nm
Đầu thu tín hiệu: Photodetector
Nguồn sáng: Laser diode
Kích thước quét tối đa: 2.5 µm × 2.5 µm × 0.3 µm (X, Y, Z)
Kích thước mẫu tối đa: đường kính 38 mm. x 8 mm

Liên hệ

Model: EPMA-1720 / 1720H

Hãng sản xuất: SHIMADZU

Độ nhạy, độ chính xác, độ phân giải cao và dễ sử dụng
Cả phần cứng và phần mềm đều được tích hợp những công nghệ mới nhất
Thiết kế của máy quang phổ tia X được tối ưu hóa giúp cho các phép phân tích đạt được độ nhạy và độ chính xác cao
Quá trình vận hành dễ dàng làm tăng hiệu quả làm việc của thiết bị với quá trình quan sát ảnh SEM để phân tích
Bắt đầu ảnh SEM chỉ với một Click chuột
Quá trình đánh giá đơn giản, nhanh chóng và chính xác với chùm tia điện tử, trong khi đó vẫn duy trì được sự tập trung
Duy trì góc tia X ở 52,5° là cơ sở để đạt được hiệu quả phân tích cao
Độ phóng đại: 40× tới 400,000×
Nguồn điện tử: W (Vonfram ) filament
Độ phân giải: 1 µm; Độ phân giải ảnh điện tử thứ cấp: 6 nm

Liên hệ

Model: EPMA-8050G

Hãng sản xuất: SHIMADZU

Thiết bị được trang bị một hệ thống quang học điện tử FE tiên tiến
Khả năng lập bản đồ phân bố với độ phân giải siêu cao
Độ phân giải ảnh điện tử thứ cấp cao nhất
Quá trình vận hành đơn giản và dễ hiểu
Khả năng lập bản đồ phân bố với độ nhạy cực cao
Công nghệ tiên tiến cho phép phân tích với độ nhạy cực cao ở các vùng biên
Hệ thống có thể được trang bị tới 5 thiết bị quang phổ tia X 4-inch cho độ phân giải và độ nhạy cao
Nguồn điện tử: Schottky emitter
Độ phóng đại: 40× tới 400,000×
Độ phân giải: 1 µm; độ phân giải ảnh điện tử thứ cấp: 3 nm

Liên hệ